6 进厂检验的注意事项

6.1 静电

半导体器件对静电敏感,请做好充分的静电防护对策,防止半导体设备损坏。
请参见 9 项“静电防护对策”。

6.2 引脚逆耐压

集成电路等半导体器件以 GND 为基准的规定各引脚的耐压。
进行电气检查时,请以 GND 引脚为 0[V] 进行检查。
如果向 GND 引脚施加高于各引脚的电压,集成电路可能会发生耐压老化、损坏,集成电路内部电路也可能会产生寄生动作而导致老化、损坏。
此外,在 GND 之外的引脚之间施加电压也可能导致老化、损坏,敬请注意。

6.3 施加瞬态电压

测量时请勿施加瞬态电压(dv/dt 高的电压)。否则半导体器件可能会产生错误动作或老化、损坏。
根据装置不同,施加电压时,可能会产生超过设定值的浪涌电压。请从 0[V] 起逐渐提高施加电压。

6.4 插座的插拔

测量半导体器件时,如果需要插拔插座,应先切断电源。在电压尚未放电完毕时在插座上插拔半导体器件,会引起老化、损坏,敬请注意。
此外,在插座上插拔时,请注意避免对封装主体施加应力。

6.5 插座的选择

插座分为实装用插座和老化测试插座。老化测试插座用于半导体器件的检查,需定期更换。
实装用插座不可反复插拔,如果反复插拔会导致半导体器件引脚端子部分的浸焊或镀层脱落,引起插座内部短路,半导体器件老化、损坏。
另外,长期使用非一体成型、质量较差的老化测试插座,可能会像实装用插座一样发生内部短路,因此选择插座时还要注意插座结构。

6.6 测量时的过电流限制

为防止万一出现的损坏,请串联过电流限制电阻或引入过电流限制电路进行保护。

6.7 老化器件的混入

电气检查中半导体器件的引脚间阻抗或V-I波形发生变化时,即使只有细微变化也应排除,防止其混入批量生产的产品中。
一开始可能没有问题,但在客户的工序或市场中可能会加速老化。

6.8 引脚端子的使用

如果在进行电气检查时加工引脚端子,请注意不要对半导体器件内部施加应力损害。
请不要在用于批量生产的产品中混入会在加工引脚端子时施加应力损害的产品以及摔过的产品。
请参考 7-1-1 项“引脚端子的弯折”、7-1-2 项“对引脚端子施加的应力”。

6.9 检查样品的保管

请参考 3 项“包装注意事项”、4项“保管注意事项”。


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